高溫老化試驗(yàn)箱廠家是為了達(dá)到滿意的合格率，幾乎所有產(chǎn)品在出廠前都要先藉由老化。制造商如何才能夠在不縮減老化時(shí)間的條件下提高其效率?本文介紹在高溫老化試驗(yàn)箱廠家老化過(guò)程中進(jìn)行功能測(cè)試的新方案，以降低和縮短老化過(guò)程所帶來(lái)的成本和時(shí)間問(wèn)題。
在半導(dǎo)體材料業(yè)內(nèi)，元器件的高溫老化試驗(yàn)箱老化難題一直存有各種各樣爭(zhēng)執(zhí)。像其他商品一樣，半導(dǎo)體材料隨時(shí)隨地將會(huì)由于各種各樣緣故而出現(xiàn)常見(jiàn)故障，高溫老化便是意謂讓半導(dǎo)體材料開(kāi)展過(guò)載工作中，而使缺點(diǎn)在短期內(nèi)內(nèi)出現(xiàn)，防止在應(yīng)用初期產(chǎn)生常見(jiàn)故障。如果不意謂脆化，許多半導(dǎo)體材料制成品因?yàn)樵骷蜕a(chǎn)制造工藝多元性等緣故在應(yīng)用中會(huì)造成許多難題。
在剛開(kāi)始應(yīng)用后的幾個(gè)小時(shí)到幾日以內(nèi)出現(xiàn)的缺點(diǎn)(在于生產(chǎn)制造工藝的完善水平和元器件整體構(gòu)造)稱(chēng)之為初期常見(jiàn)故障，脆化以后的元器件大部分規(guī)定100%清除由這段時(shí)間導(dǎo)致的常見(jiàn)故障。老化之后的器件基本上要求100%消除由這段時(shí)間造成的故障。準(zhǔn)確確定高溫老化房老化時(shí)間的唯一方法，是參照以前收集到的高溫老化試驗(yàn)箱廠家老化故障及故障分析統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)，而大多數(shù)生產(chǎn)廠商則希望減少或者取消老化。
高溫老化試驗(yàn)箱廠家老化制程，必須要確保工廠的產(chǎn)品滿足用戶對(duì)可靠性的要求，除此之外，它還必須能提供工程數(shù)據(jù)以便用來(lái)改進(jìn)器件的性能。
